English
MÁY ĐO ĐỘ DÀY LỚP PHỦ XRF-3050
Máy đo độ dày lớp phủ XRF (huỳnh quang tia X) là một thiết bị phân tích không phá hủy, độ chính xác cao, được sử dụng để đo độ dày của các lớp phủ kim loại trên nhiều chất nền khác nhau.
Thông tin sản phẩm
| Hạng mục kỹ thuật | Thông số kỹ thuật (Model XRF-3050) |
|---|---|
| Phạm vi đo các nguyên tố | Cl（17）- U（92） (p. 6) |
| Phạm vi phân tích lớp phủ | Cl（17）/Li（3）- U（92） (p. 6) |
| Thuật toán EFP | Cấu hình tiêu chuẩn (p. 6) |
| Phần mềm phân tích | Phân tích đồng thời năm lớp phủ và 10 nguyên tố (p. 6) |
| Khả năng phát hiện nguyên tố ở các lớp khác nhau | Cấu hình tiêu chuẩn (p. 6) |
| Vận hành phần mềm | Phần mềm đóng nhân bản, tự động đánh giá lỗi, nhắc nhở sửa lỗi và các bước vận hành để tránh thao tác sai (p. 6) |
| Bộ phận X-quang | Ống tia X lấy nét micro (Microfocused ray tube) (p. 6) |
| Ống chuẩn trực (Collimator) | Φ0.5mm；Φ0.2mm；Có thể tùy chọn một trong hai (p. 6) |
| Công nghệ lấy nét ánh sáng micro | Độ khuếch tán điểm đo gần nhất nhỏ hơn 10% (p. 6) |
| Phạm vi đo | Với chức năng bù khoảng cách, có thể thay đổi khoảng cách đo của các mẫu lồi và lõm, phạm vi zoom đạt 0-90mm (p. 6) |
| Quan sát mẫu | CCD màu 1/2.7″, chức năng zoom (p. 6) |
| Phương pháp lấy nét | Ống kính độ nhạy cao, tự động lấy nét không cảm ứng (p. 6) |
| Hệ số phóng đại | Quang học 18-46X với độ phóng đại kỹ thuật số 20-200x (p. 6) |
| Kích thước thiết bị | 550mm760mm635mm (p. 6) |
| Chế độ di chuyển bàn mẫu | Bàn trượt XY thủ công (p. 6) |
| Phạm vi khả dụng | 100mm*150mm (p. 6) |
| Trọng lượng thiết bị | 100KG (p. 6) |
| Kích thước hộp gỗ | Dài 1012mm * Rộng 637mm * Cao 737mm (p. 6) |
| Trọng lượng hộp gỗ | 26KG (p. 6) |
| Phụ kiện khác | Một bộ máy tính, hộp phụ kiện, mười hai mảnh nguyên tố, cốc đo chất lỏng mạ điện (tùy chọn), tấm tiêu chuẩn (tùy chọn) (p. 6) |
| Tiêu chuẩn X-quang | DIN ISO 3497, DIN 50987, ASTM B 568 (p. 6) |
Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.